通过对液晶盒点灯治具进行改造增加逻辑运算小盒及光学探头，实现液晶盒透过率测试，将偏光片贴附白玻璃、偏光片载台开槽以及实测液晶盒驱动电压并将程序设定，匹配测试液晶盒与模组产品的透过率。通过实验得出优化改造后的点灯治具测试液晶盒透过率与模组透过率波动趋势一致，可以满足液晶盒透过率筛选的需求，将透过率波动较大的产品前置拦截，有效规避后端模组资材的浪费。

针对当前液晶显示器前壳缝隙开口处的填充材料工艺设计复杂的问题，选取高导电性的金属粒子填充层作为导电面层，碳布层作为屏蔽面层，柔性硅橡胶作为中间基体层，设计一种层状结构导电橡胶。通过结构设计实现了导电橡胶低硬度和高导电性的协同。结果表明，当硅橡胶的硬度为35，体积电阻率为0.01 Ω·cm时可满足显示器产品的密封、防水和电磁屏蔽应用要求。

在TFT-LCD面板缺陷检测中，检测对象背景复杂、缺陷细微且种类繁多，而工业生产实时性要求高，传统的缺陷分类算法往往难以兼顾精度和速度要求，无法适用于实际生产应用。为均衡TFT-LCD面板缺陷分类的准确率和速率，提出一种基于Swin Transformer的轻量化深度学习图像分类模型。首先对模型每层输入的特征图进行Token融合以减少模型计算量，从而提高模型的轻量化水平。其次引入深度可分离卷积模块以帮助模型增加卷积归纳偏置，从而缓解模型对海量数据的依赖问题。最后使用知识蒸馏方法来克服模型轻量化导致的检测精度下降问题。在自制TFT-LCD面板缺陷分类数据集上的实验表明，本文提出的改进模型相比基线模型，FLOPs计算量降低了2.6 G，速度指标提升了17%，而Top-1 Acc精度仅损失1.3%，且与其他图像分类主流模型相比，在自制数据集和公开数据集上都具有更均衡的精度和速度。

大尺寸薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD）显示器为节省黑色矩阵（Black Matrix，BM）制程降低面板成本，使用黑色膜柱（Black Photo Spacer，BPS）技术替代BM和PS（Photo Spacer）制程，同时为兼顾对组精度提升的需求，采用BOA（BPS on Array）技术，将BPS转移至阵列基板侧。原BM制程是第一道制作，而新的BPS制程则位于阵列最后一道制程。BPS曝光成型需使用阵列前制程的金属标（Metal Mark）进行精准对位，实现精细化图案。BPS的透过率低，致使CCD摄像机透过BPS抓取前制程的金属标进行对位非常困难。针对该技术难题，对曝光设备抓标的原理进行了分析，通过调整材料颜料组成，获取了不同透过率BPS材料。将不同透过率的BPS材料进行曝光成型，研究曝光对位过程对材料透过率的最低要求，同时遮光度尽可能大。实验结果表明，NSK曝光机对位灯源波长位于780~1 000 nm红外区域，在该波段BPS材料透过率低于23%时会导致对位失败。通过使用有机-无机混合颜料组成取代有机混合颜料，在红外波段可获得接近90%的透过率，满足对位需求。同时固化成型后可获得1.2/μm光学密度，满足BPS产品遮光特性需求。以此制作的BPS面板光学指标满足产品规格。

研究了6世代线生产的A产品边角白点不良问题。首先针对不良进行实物分析，然后利用Minitab软件的二元逻辑回归方法进行了数据分析，最后通过不同的工艺试验条件对不良进行改善。实验结果表明：不良区域封框胶被金属走线遮挡，遮挡比例是边角白点不良的重要影响因素；TOF‑SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）进一步分析发现不良区有更高含量的封框胶成分（丙烯酸类、双酚A类）。封框胶被金属走线遮挡，造成该区域封框胶固化不完全，导致封框胶成分析出溶入液晶，继而影响液晶正常偏转，产生边角白点不良。通过调整边角处的封框胶画法，可以有效降低不良率。实验改善了边角白点不良，为A产品的顺利量产打下了坚实基础。

扩散板作为液晶显示器（Liquid Crystal Display，LCD）背光中不可或缺的重要部件，可起到雾化光线的作用。常见的扩散板主要有表面微结构型与粒子散射型两种，主要性能参数是雾度及透光性，加入量子点的扩散板还具备色转换和改善色彩呈现能力的特性。相较于量子点色彩增强膜，量子点扩散板具有制备工艺更简单、成本更低、雾化能力更高等优势，非常适合于Mini-LED背光源。本文对液晶显示用扩散板的研究进展做了简要概述，并着重介绍了多层结构的量子点扩散板的制备工艺及性能。在稳定性方面，所制备量子点扩散板在高温高湿（60 ℃/90%RH）环境下可长时间储存，在蓝光照射条件下（中心波长450 nm，45 ℃/85%RH）的T95寿命超过了1 000 h。同时，该量子点扩散板在450 nm蓝光Mini-LED背光照射下的亮度均匀性高于80%，蓝、绿、红光的半峰宽分别小于20 nm、25 nm、25 nm，色域覆盖率达到了DCI-P3标准的99.58%。总之，该量子点扩散板兼具优异的色转换与匀光的功能，且寿命稳定，有望在大中型尺寸液晶显示器中得到大规模应用。

液晶显示是目前广泛应用的显示技术，然而常用的LED背光荧光粉的宽光谱特点限制了其色彩显示能力和总流明效率的进一步提升。量子点具有窄发射光谱和高荧光效率等优势，为提高液晶显示色彩品质和感知亮度提供了新技术路线。本文介绍了量子点液晶显示（QD-LCD）应用的结构设计和材料体系，探讨了量子点应用存在的材料稳定性、背光设计难度和制备成本等问题。针对液晶显示应用的低成本、低毒性和易集成需求，讨论了钙钛矿量子点的应用前景，特别是进一步扩展量子点适用性的解决方案，如彩膜透过率光谱交叉、偏振片的能量损失等问题。

为了解决传统小尺寸液晶面板缺陷寻址方法应用在高分辨率、大尺寸液晶面板上存在的效率低、精度差等问题，建立了全自动缺陷精确寻址系统，并对该系统硬件与软件的架构及实施方式、缺陷的定址逻辑进行研究。首先，在点灯检测设备的基础上增加可移动光学相机机构和相应的软件架构，构建成寻址中控系统；然后，通过相机拍摄液晶面板自身显示的空心十字光标与缺陷重合前后的图片，采用对比的方法精确定位缺陷；最后，通过液晶面板驱动装置输出缺陷坐标。对5种缺陷进行测试，结果表明，该系统稳定易用，具有全自动、识别速度快和100%精确寻址等优点。该系统应用于H公司缺陷坐标寻址工序后，缺陷坐标准确性提升30%以上，缺陷维修收益显著提升，在大尺寸液晶面板缺陷维修坐标寻址领域具有重大应用价值。