1 华中科技大学,光电子科学与工程学院,武汉光电国家实验室,武汉,430074
2 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
3 中国科学院,高能物理研究所,北京,100039
介绍了天津ⅢX光胶片在北京同步辐射源3W1B装置上进行绝对响应标定的一种实验方法.实验中采用快门控制曝光时间,标准探测器记录积分光强,从而得到胶片接收到的绝对光强,并用黑密度计扫描胶片得到光学黑密度.数据处理中通过对快门响应的标定和对光源分布不均匀性的处理来减小光强的不确定度.实验得到了胶片在1 keV和1.5 keV两个能点绝对光强与黑密度之间的绝对响应实验数据,并用Henke的理论公式拟合得到绝对响应曲线.
X光胶片 同步辐射 响应曲线 标定
提出了5F软X光胶片对低能X射结响应的数学模型,模型中部份参数由厂家提供,其余参数由在183 eV和933 eV两能点实验标定的胶片响应曲线确定。数学模型及参数有有效性用282 eV能点处5F软X胶片的实验响应曲线进行了初步检验。
5F软X光胶片 响应曲线 数学模型 光学黑密度 X射线曝光量
1 中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
2 中国科学院西安光学精密机械研究所, 西安 710068
利用均匀线聚焦激光产生的等离子体和软X针孔透射光栅谱仪获得了均匀的线状软X光单色光源.在这一光源基础上,利用加阶梯膜的新方法首次标定了国产无保护层5F软X光胶片在软X光波段的响应特性.
线聚焦激光等离子体 软X光单色光源 阶梯膜 软X光胶片标定
