利用时间展宽分幅相机研究电子束的时间聚焦现象.当阴极未加载脉冲电压时，测得相机的时间分辨率为80 ps.当阴极加载斜率为14 V/ps的脉冲电压、电路延时为11.395 ns时，相机的时间分辨率为8.8 ps，电子束的时间宽度经历了被压缩到被展宽的过程.改变阴极脉冲下降沿斜率，研究电子束时间聚焦时系统时间分辨与下降沿斜率的关系.当下降沿斜率为1 V/ps时，时间分辨近似等于80 ps，电子束到达微通道板时其时间宽度约等于原始宽度.当斜率大于1 V/ps时，时间分辨小于80 ps，到达微通道板时电子束时间宽度被展宽.当斜率为0.5 V/ps时，时间分辨大于80 ps，到达微通道板时电子束时间宽度被压缩.

提出了一种基于CsI(Tl)闪烁晶体和面阵CCD器件、采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输、以扇形束线阵扫描方式实现对X光高分辨探测的方案。CsI(Tl)晶体的尺寸大小将直接影响到晶体的发光效率及X光的高分辨探测,据此开展了蒙特卡罗模拟研究。模拟研究了X射线能量、X射线源到探测晶体的距离(源距)、CsI(Tl)晶体的厚度与X射线能量分布、全能峰效率与CsI(Tl)闪烁晶体转换效率之间的关系。结果表明,当X射线能量为120～450 keV, CsI(Tl)晶体尺寸厚度为0～1.5 cm变化时,全能峰效率的变化范围为31.34～96.74％,CsI(Tl)闪烁晶体的转换效率的变化范围为12.8～97.43％。可见,X射线的能量及CsI(Tl)闪烁晶体尺寸的厚度,是决定X光高分辨探测的重要参量,这对优化X光高分辨探测用CsI(Tl)晶体的尺寸设计具有一定的参考价值。