中国工程物理研究院 流体物理研究所， 中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室， 四川 绵阳 621900
在高能闪光照相技术中，高能X射线的能谱测量一直是一个难点。在以往研究方法的基础上，指出控制散射的影响程度是提高能谱测量精度的关键。提出采用圆形阵列法对X射线能谱进行测量，并针对一特定能谱的X射线设计了测量装置，蒙特卡罗模拟结果表明，可以将散射的影响控制在4%以内，这对提高能谱测量精度具有十分重要的意义。
高能X射线 能谱测量 圆形阵列法 蒙特卡罗模拟 high-energy X-ray energy spectrum measurement circular array method Monte-Carlo simulation 强激光与粒子束
2013, 25(11): 2995
