1 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100049
红外焦平面成像质量受材料生长及器件制备工艺的影响, 易出现盲元、条纹噪声等缺陷。条纹噪声经常会导致盲元的检测偏差, 准确的盲元检测对于后续图像处理具有重要意义。利用双密度双树复数小波分解的多方向性小波系数, 结合广义高斯分布将高频小波系数按照对条纹噪声影响程度分别赋予不同权值并进行单支重构, 消除了条纹噪声对盲元检测的影响, 得到初步“干净”的预处理图像, 进而对预处理图像运用3?滓准则进行盲元检测。通过短波HgCdTe红外焦平面成像的实践验证, 该方法对具有条纹噪声特征的红外图像盲元检测更加准确。
红外焦平面 盲元检测 条纹噪声 双密度双树复数小波 IRFPA blind pixels detection stripe noise double density double tree complex wavelet 红外与激光工程
2018, 47(2): 0204001
