中国工程物理研究院 激光聚变研究中心， 四川 绵阳 621900
利用表面镀金阴极膜的微通道板(MCP)构成一种金阴极MCP光电探测器，根据MCP的电阻电容特性提出了一种特殊的能谱响应测量方法。在北京同步辐射3B3中能束线上对该探测器在2.1～6.0 keV能段的谱响应进行了实验标定。以美国NIST绝对定标的美国IRD公司生产的AXUV-100硅光二极管为次级标准探测器，标定金膜厚度分别为25和100 nm的金阴极MCP探测器的能谱响应。经分析发现，阴极材料和MCP材料的元素吸收边是造成量子效率曲线出现突变点的原因。对比两种MCP的能谱响应标定结果，金膜厚度为100 nm探测器的能谱响应高于金膜厚度为25 nm的探测器。
微通道板 金阴极 能谱响应 同步辐射 microchannel plate Au photocathode energy dependent sensitivity synchrotron radiation
