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材料
基片缺陷与磁光盘原始误码
曹丹华 吴裕斌 阮玉 
作者单位
摘要
华中理工大学光电子工程系, 武汉 430074
分析了基片缺陷导致磁光盘产生原始误码的原因。首次建立了磁光盘读出光场与基片杂质特性的数学模型，利用数值分析方法研究了读出信号畸变、误码长度与杂质特性的关系。分析结果表明，一定大小的基片杂质是否产生误码，与杂质距记录层的距离、杂质距读写光斑的距离以及读出阈值电平等因素有关。
磁光盘 基片 杂质 误码 信号畸变 
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光学学报
1995, 15(12): 1680
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