中国电子科技集团公司光电研究院, 天津 300000
针对传统恒虚警检测低信噪比情况下面目标性能下降问题, 提出了基于均值和方差双参数检测的新方案。首先采用了目标与背景统计特性差异最大化准则, 估计出待检测单元的均值和方差, 并通过互乘待检测单元的均值和方差获得最终的检测图像, 得到了最优均值和最优方差统计特性, 再利用全局CFAR检测检测出目标, 从而在保证一定检测概率的同时降低虚警概率。仿真结果表明, 该方法对低信噪比面目标的检测性能优于传统的恒虚警检测。
面目标检测 恒虚警率 全局CFAR surface target inspection constant false alarm rate (CFAR) global CFAR
