提出了一种基于磁光调制法测量玻璃内应力方向和大小的方法，并建立了基于磁光调制的内应力测量系统。首先，采用光线追迹的方法，根据偏振光的琼斯矩阵描述方式推导了系统的测量模型; 采用磁光调制器，对信号光束进行正弦交变的磁光调制，将直接测量光强信号改为测量频率信号，提高了测量准确度; 采用磁旋光器，消除了人为操作引起的误差，并通过控制旋光器外加线圈驱动电流的大小，改变调制信号光偏振方向的旋转角度; 最后，对待测样品进行了多次旋转测量。测量结果显示，本方法对玻璃内应力方向的测量准确度为5″，对应力双折射的测量准确度为0.3 nm/cm。得到的结果验证了该方法的有效性和稳定性，显示系统具有稳定性高、准确度高、容易实现工程化等特点。