作者单位
摘要
西安工业大学 光电工程学院,陕西 西安 710032
颗粒测试在工业生产和科学研究中涉及的领域非常广泛,常用的颗粒粒度及其分布的测试方法是激光粒度测试法,其具有测试精度高、测量速度快、重复性好和可测粒径范围宽等突出优点。CCD传感器有灵敏度高、分辨率高、噪声小和较大的动态范围等优点,其作为激光粒度仪的探测器提高光强分辨率的应用已经很普遍了。为提高测量精度,通过对CCD传感技术的研究,应用图像处理的方法来设计光电探测器,搭建了基于米氏散射原理的激光粒度测试系统。实验结果表明,用CCD传感器采集光散射图像,再对图像进行处理,D50与D10误差在6%之内,D90误差在1%之内,降低了测量的重复误差。
粒度分布 米氏散射理论 激光粒度测试 CCD传感器 particle size distribution Mie scattering theory laser particle size distribution test CCD sensor 
应用光学
2012, 33(4): 774
作者单位
摘要
西安工业大学 光电工程学院,陕西 西安710032
在测量微粒系统的散射光强角分布中计算微粒系统的粒径分布,属于典型的反演问题。反演算法一直是激光粒度仪的关键和难点。介绍了基于米氏散射理论的粒度测试,对其求解方法进行了详细分析。针对独立模式算法不需要预先指定粒径分布函数的形式就可获得真实粒度分布,提出了一种改进的独立模式粒度反演算法,并对算法的性能进行了理论分析和实验论证。实验结果表明,所提出的算法有效地提高了测量精度,降低了测量的重复误差。
激光粒度仪 米氏散射理论 激光粒度测试 反演算法 laser particle sizer Mie scattering theory laser particle size distribution test inversion algorithm 
光学仪器
2011, 33(6): 14

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