为了检测 TFT-LCD平板表面缺陷，搭建了自动光学检测 (AOI)实验系统，提出了一种基于二维 DFT的缺陷检测算法。通过霍夫变换 (HT)检测到代表线状纹理的高能量频域直线，将位于直线邻域内的频率成分置 0，再经过二维 IDFT进行空间域图像重构，来移除方向性线状纹理背景，最后经过简单的阈值算法将缺陷从背景中提取出来。在对高能量频域直线的斜角计算时，利用数学统计解决了如何自动选取频域中高能量阈值以及如何从斜角直方图中自动提取各个峰值点这两个关键问题。在重构图像时，在以傅里叶频谱中心为圆心的圆环内，设置圆环内的频率成分不变，很好地保护了方向接近方向纹理的缺陷不被移除。实验结果表明，对包含纤维、污点和划痕的 TFT-LCD平板表面缺陷，检测结果完全正确，证明了该检测算法具有良好的实用性与鲁棒性。