作者单位
摘要
1 电子科技大学 光电信息学院, 四川 成都 611731
2 电子科技大学 电子科学技术研究院, 四川 成都 610054
为了能够更好地实现对液晶光学相控阵的移相分布特性进行高精度的测量, 本文针对傅里叶四分之一波片法的测试精度进行理论仿真和试验验证。仿真结果表明, 该方法测试误差小于0.08°, 采用标准二分之一波片对其进行验证, 实验结果表明重复精度小于0.3°。因此, 针对液晶光学相控阵波控数据0.5°移相控制精度要求, 傅里叶四分之一波片法的测试精度和重复精度能够满足移相测量精度要求。
液晶移相 相移检测 傅里叶变换 四分之一波片法 liquid crystal phase delay phase delay measurement Fourier transformation method of quarter plate 
液晶与显示
2017, 32(1): 7

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