作者单位
摘要
1 电子科技大学 航空航天学院,四川 成都 611731
2 四川出入境检验检疫局 机电处,四川 成都 610041
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。
Chan-Vese模型 TFT-LCD Mura缺陷 水平集 半隐差分格式 Chan-Vese model TFT-LCD Mura defect level set semi-implicit scheme 
液晶与显示
2014, 29(1): 146

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