1 中科院上海技术物理研究所传感国家重点实验室, 上海 20083
2 中科院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
低温光谱是红外滤光片一项重要的考核参数,采用傅里叶光谱仪测试了红外滤光片在安装滤光片架前后的常温和85 K低温光谱,同时利用有限元分析方法模拟了85 K的红外滤光片安装滤光片支架前后的形变和应力,分析和比较了试验结果,为进一步优化红外滤光片的可靠性设计提供了参考。
红外滤光片 低温光谱 短波漂移 热应力 背景辐射 infrared filter low temperature spectrum short-wave moving thermal stress background radiation
