研究了18、25、30 μm三种金丝和25、32、45 μm三种硅铝丝键合引线在不同温度循环次数下的键合强度衰减规律，并研究了拉断模式的比例。结果表明，所有试验样品，无论是否经历温度循环，均达到了GJB548B-2005方法2011.1中的最小键合强度要求，均未出现焊点拉脱的现象。随着温度循环次数的增加，金丝键合强度先略微增大，后缓慢减小并趋于平缓。硅铝丝键合强度先较快减小，后缓慢减小，并趋于平缓。相比于金丝，硅铝丝在0~50次的温度循环下键合强度衰减较快。通过曲线拟合，获得不同丝径下的键合强度衰减变化方程。

探测器是航天有效载荷中完成光电转换的核心部件, 且一旦发射升空, 几乎不可能对其进行维护、修理和更换。采用经过筛选的无寿命数据的商业红外探测器存在风险, 热电制冷器(TEC)的使用寿命是探测器组件寿命的薄弱环节, 其可靠性对探测器的正常使用具有重要影响。因此, 对红外探测器组件的寿命试验研究至关重要。首先分析了某航天载荷红外探测器的工作模式及TEC的失效机理, 制定了恒定应力结合定数截尾的加速寿命试验方案降低时间成本; 然后, 从硬件和软件的两个部分详细地阐述了红外探测器寿命试验系统的搭建, 并展示了设备实物图和红外探测器温度循环效果图; 最后, 运行寿命试验系统, 试验时间累积约170 d, 红外探测器温度循环累积约30 000次。试验结果指出: 两种型号星载红外探测器经过寿命试验后G12180相对光谱响应率最大变化1.45%, G12183相对光谱响应率最大变化444%, G12180组件热电制冷器制冷驱动电流最大增加了4.30%, G12183组件热电制冷器制冷驱动电流最大增加了750%, 探测器组件的使用寿命和性能变化满足航天载荷需求。

利用高低温设备实验研究大芯径光纤在-100～100℃温度范围内温度对大芯径光纤传输损耗的影响。实验结果表明，大芯径光纤在光纤传输第1窗口（850 nm波段）传输损耗系数随着温度随机波动，在整个温度区间内其传输损耗系数在2.543 dB/km~4.237 dB/km范围内波动；研究还发现，经过高低温循环实验测试后，光纤纤芯与包层处未产生顺磁性缺陷，说明在此温度范围内光纤化学键未发生断键情况。通过建立相应的应力模型解释了大芯径光纤在高低温两端传输损耗系数波动较大的原因，并提出了减少温度对大芯径光纤传输损耗影响的相应措施。

研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下，对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验，建立了循环寿命的数学模型。结果表明：循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系，通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命，外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据，为工艺设计人员提出量化数据。