作者单位
摘要
1 天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津 300072
2 光电信息技术教育部重点实验室, 天津 300072
3 珠海欧美克仪器有限公司, 广东 珠海 519085
基于米氏散射原理的激光粒度仪是颗粒测量领域应用最广泛的仪器之一。通常情况下颗粒越小,散射角越大,激光粒度仪探测器阵列接收到的散射光能分布的主峰位置越靠外。但是,对特定相对折射率的颗粒,在某些粒径区间,散射光能分布的主峰位置会随着颗粒粒径的减小而向探测器阵列的内侧移动,称之为散射光能分布的反常移动。根据米氏散射原理,给出了反常移动的规律以及不同相对折射率下反常移动的粒径区间,分析了反常移动对粒度分析的影响,提出了降低该影响的方法,并对实际样品进行测试对比。结果表明,该方法可以降低反常移动对粒度分析的影响。
散射 激光粒度仪 光能分布反常移动 米氏散射 主峰位置 
光学学报
2013, 33(6): 0629001

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