姚颖 1,*张壮森 1王宾 1连启会 1[ ... ]吴浪 1
作者单位
摘要
1 西南科技大学材料科学与工程学院, 绵阳 621010
2 中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心, 上海 200050
针对高硫、高钠的高放废液玻璃固化过程中Na2SO4极易分解和分相的问题, 本文提出在模拟高放废液中加入适量Pb(NO3)2溶液将Na2SO4转变成PbSO4, 再利用熔融法制备硼硅酸盐玻璃固化体。首次采用在钢铁材料中广泛应用的高温激光共聚焦显微镜原位观察PbSO4在玻璃熔体中的溶解特性, 并探究不同温度(800~1 150 ℃)下PbSO4与硼硅酸盐玻璃混合熔制后的热稳定性以及玻璃体中的硫含量。结果表明: 在硼硅酸盐玻璃中掺入6%(质量分数, 以SO3计)PbSO4的样品在800 ℃和900 ℃为均匀的玻璃陶瓷, 其中800 ℃时主要含SiO2及少量BaSO4、PbSO4晶体, 900 ℃时SiO2晶体减少, BaSO4晶体增多, PbSO4消失并出现CaMgSi2O6晶体; 样品在1 000 ℃时玻璃表面开始出现由PbO、BaSO4、LiNaSO4晶体组成的白色分相, 在1 000~1 100 ℃时圆形PbO晶体逐渐长大, BaSO4晶体由块状变为条状; 样品在800~1 000 ℃时玻璃体中的硫含量基本保持不变, 随着温度进一步升高硫含量迅速下降。
高放废液 硼硅酸盐玻璃 硫酸铅 溶解 固化 高温激光共聚焦显微技术 high-level liquid waste borosilicate glass lead sulfate dissolution solidification high temperature confocal scanning laster microsco 
硅酸盐通报
2022, 41(3): 1044
作者单位
摘要
哈尔滨工业大学机电工程学院, 黑龙江 哈尔滨 150001
熔石英光学材料是一种高新技术产品,在现代各领域的应用越来越广泛,特别是航天航空等领域具有大量应用需求。由于其产品的制造难度较大,因此其成品质量的高低就成为人们最为关注的问题,其中尤以亚表层损伤的问题至关重要。论述了几种常用的亚表层损伤检测方法和原理,分析了其优缺点。在此基础上说明了使用荧光共聚焦显微技术来检测光学元件亚表层损伤的可行性和准确性。使用共聚焦激光扫描显微镜对熔石英玻璃试件的亚表层损伤进行了检测实验。对比了角度抛光法所得到的两种荧光量子点亚表层损伤深度,可以明确在一定的加工条件下亚表层损伤的分布情况。使用图像处理软件Image-Pro Plus 6.0 分析了亚表层损伤的分布图像及分布密度,定量的给出了亚表层损伤的基本规律。
光学制造 熔石英 亚表层损伤 共聚焦显微技术 
中国激光
2015, 42(4): 0406004
作者单位
摘要
麦克奥迪实业集团有限公司, 福建 厦门 361006
共聚焦显微镜以其高对比度、高分辨率及可重建三维图像的独特优势, 在生物医学研究、微细加工、半导体和高分子材料的生产检测等领域获得广泛应用。常用的共聚焦技术方法有:传统的激光扫描共聚焦显微镜(LSCM), 其特点是获得的图像对比度和分辨率高, 但需要逐点扫描, 帧成像时间长, 系统复杂, 体积大, 价格昂贵;碟片共聚焦显微镜(SDCM)是采用多光束扫描的方法来获得共聚焦图像, 速度可以大大提高, 但牺牲了共聚焦图像的分辨率, 系统更为复杂, 且不能调整轴向分辨率;结构光显微镜(SIM)具有方法简单, 可模块化设计, 成本低, 成像质量接近于激光扫描共聚焦显微镜, 成像速度快, 性价比较高。
显微 共聚焦显微技术 激光扫描共聚焦 碟片共聚焦 结构光 microscopy confocal microscopy laser scanning spinning-disk structured illumination 
光学仪器
2013, 35(1): 44
作者单位
摘要
东北农业大学乳品科学教育部重点实验室, 黑龙江 哈尔滨 150030
瘦素(Leptin)通过作用于长型受体(OB-Rb)调控乳腺的发育和泌乳。为阐明小鼠乳腺发育循环过程中瘦素和OB-Rb的表达含量和表达部位的变化,采用间接免疫荧光和激光共聚焦显微技术对青春期、妊娠期、泌乳期和退化期的小鼠乳腺中瘦素和OB-Rb的表达含量和表达部位进行检测。结果表明:乳腺脂肪垫、导管上皮细胞和腺泡上皮细胞中均可检测到瘦素的表达,导管上皮细胞和腺泡上皮细胞的基底侧可以检测到OB-Rb的表达。乳腺中瘦素和OB-Rb的表达变化趋势一致,在青春期最高,妊娠期下降,泌乳期维持低水平,退化期重新上调,恢复到青春期水平。相关性分析显示瘦素和OB-Rb的表达呈显著正相关( r=0.941, P≤0.01)。
光学与生物技术 定位与定量 激光共聚焦显微技术 乳腺 瘦素 长型瘦素受体 
光学学报
2010, 30(s1): s100502

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