应用Nd∶YAG脉冲激光器(532 nm)作为光源, 诱导激发TU0Cu样品。 以光栅光谱仪和ICCD为谱线分离与探测器件, 在30～110 mJ激光能量范围和触发后211～230 μs时间范围内对Cu(Ⅰ)特征谱线324.754, 327.396, 510.554, 515.324和521.320 nm的自吸收特性进行比较研究。 研究表明, 特征谱线自吸现象随时间增加逐渐减弱, 经过5～20 μs逐步消失; 在50～100 mJ能量范围内, 随着激光能量的增大, 谱线的自吸收程度增加, 持续时间变长。 同时特征谱线的自吸收特性因谱线跃迁能级状态不同而存在差异, 具有相同原子组态的324.754, 327.396 nm和515.324, 521.320 nm两组谱线的自吸收程度随时间和激光能量的演变以及自吸持续时间随能量的变化都分别表现出相似的特征, 且总角动量J较大(324.754 nm, 1/2-3/2; 521.320 nm, 3/2-5/2)的谱线自吸收程度相对明显, 持续时间较长, 受能量变化影响敏感, 自吸收程度随能量变化幅度也较大。 谱线510.554 nm(3d104p-3d94s2)在能量小于80 mJ时自吸程度较低, 持续时间较短; 能量在80～100 mJ范围内时自吸程度加大, 持续时间变长。