作者单位
摘要
1 中国科学院,光电技术研究所,成都,610209
2 中国科学院,研究生院,北京,100080
介绍了变形镜本征模的构造过程及其特点,分析了从荷兰OKO公司购买的37单元微加工薄膜变形镜的本征模,并用前65阶Zernike多项式分析微加工薄膜变形镜的37阶本征模的特性.搭建了以微加工薄膜变形镜作为波前校正器、变形镜本征模为波前复原控制算法以及高分辨率Shack-Hartmann波前传感器为波前探测器的自适应光学实验系统.实验结果表明:变形镜本征模可以实现模式筛选,也可作为自适应光学系统的波前复原算法.
自适应光学 微加工薄膜变形镜 变形镜本征模 波前复原 
强激光与粒子束
2006, 18(8): 1265

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