建立了一个极紫外光刻含缺陷多层膜衍射谱仿真简化模型，采用相位突变和反射系数振幅衰减表示缺陷对多层膜反射光的影响，得到了含缺陷多层膜衍射谱的解析表达式。简化模型中，相位突变量由多层膜表面以下第6层膜的缺陷形态决定，反射系数振幅衰减量由基底的缺陷形态决定。与改进单平面近似(SSA)模型相比，仿真速度基本一致的情况下，简化模型提高了含缺陷多层膜衍射谱仿真的精度，6°入射时，衍射谱的0~+3级衍射光振幅的仿真误差减小50%以上，并且不同入射角情况下，尤其在入射角小于12°时，振幅误差稳定。得到了含缺陷多层膜衍射谱的解析表达式，可进一步理论分析缺陷对多层膜衍射谱的影响，为得到掩模缺陷的补偿公式奠定了基础。