中国科学院半导体研究所光电系统实验室, 北京 100083
在分析大模场双包层光纤的模式特性和测试光路中光功率分配的基础上，根据耦合波理论和传输矩阵法，对不同情况下大模场双包层光纤光栅的透射谱和反射谱进行数值分析，结果表明光谱形状取决于模式间的功率分配，通过基模的透射谱可以测量双包层光纤光栅的真实反射率。采用相位掩模法制作了基模反射率不低于99.7%的20/400 μm大模场双包层光纤光栅，测试了不同情况下的反射谱和透射谱，实验结果和理论分析的结论一致。
光学器件 光谱特性 耦合波理论 大模场双包层光纤光栅
