掺铒光纤放大自发辐射(ASE)光源广泛应用于光纤传感、通信、精密测量等领域。光噪声在长期连续工作时对后续检测或测量系统的精度和灵敏度影响很大，但至今少见报道。在此，利用加速老化系统对ASE 光源的光路部分进行343 K 加速老化实验，并在过程中原位监视了其光噪声的演化情况。根据阿伦尼斯模型，换算得到ASE 光源在室温环境下连续工作期间，前3200 h 内其光信号噪声下降了约0.0743 μV2Hz-1 ，而后的44416 h 中缓慢增加了0.0338 μV2Hz-1 。在老化前后，光噪声均为光功率的二次函数，通过拟合可得到，其二次项系数α (或称为光相对强度噪声系数)和一次项系数β (或称为光散粒噪声系数)。经过老化实验，两系数α 和β 都相应的增加，其中α 增加了0.010 μV2μW-2Hz-1 ，β 增加了0.054 μV2μW-1Hz-1 。同时经过老化实验，ASE光源光谱发生形变且不可恢复。