作者单位
摘要
中国科学院西安光学精密机械研究所, 陕西 西安 710119
针对长时间工作后红外焦平面阵列(IRFPA)响应特性发生漂移,图像质量下降的问题,分析了两点校正(TPC)后残留非均匀噪声的特性,在TPC的基础上提出了一种自适应非均匀性校正方法。将两点校正后的图像进行小波分解,利用贝叶斯阈值逐点进行信号方差和噪声方差的估计,计算出残留非均匀噪声并加以去除。实验结果表明,该算法可以有效去除残留非均匀噪声,避免因红外焦平面阵列响应特性漂移而导致的图像降质。
成像系统 红外焦平面阵列 非均匀性校正 残留非均匀噪声 贝叶斯阈值 
光学学报
2014, 34(9): 0910001

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