1 中国科学院上海技术物理研究所，传感技术联合国家重点实验室,上海200083
2 中国科学院研究生院，北京100039
在理论上分析了红外焦平面组件中光敏元、读出电路以及两者耦合的总噪声特性，对大周长面积比（38×500 μm2）延伸波长InGaAs组件的噪声与温度、积分时间的关系进行了实验和分析.实验结果指出，在一定条件下组件噪声与积分时间的根号并不成正比.测量了不同温度下的组件暗信号、噪声，得到组件噪声与暗电流的关系，分析表明，该种组件噪声主要来自于1/f噪声及读出电路输入级电流噪声.
延伸波长铟镓砷 焦平面噪声 积分时间 extended wavelength InGaAs focal plane array noise integral time
