红外与激光工程
2024, 53(1): 20230358
河南平芝高压开关有限公司,河南平顶山 467013
红外测温技术是电力行业常用的设备故障检测手段,在气体绝缘组合电器设备(Gas InsulatedSwitchgear,GIS)故障诊断中有着重要应用。为提高 GIS设备红外测温精度,建立了一个红外测温模型并提出一种 SF6透射率校正方法。首先,基于热辐射理论建立红外测温模型,并给出不同条件下的简化模型。然后,为提高温度测量精度,考虑 SF6透射率对红外模型测温模型输出结果的影响,给出不同条件下的 SF6透射率校正方法。最后,进行实际的温度测量实验,验证所建立的红外测温模型及所提 SF6透射率校正方法的有效性。实验结果表明,与未进行 SF6透射率校正的方法相比,使用所提 SF6透射率校正方法后温度测量精度得以提高,误差最高降低了 66.7%。所提方法为电网故障检测及监控打下基础,在电网故障检测、电网安全作业等方面有着广阔的应用前景。
电网故障检测 红外测温技术 辐射理论 SF6透射率 红外热像仪 power grid fault detection infrared temperature measurement technology radiation theory SF6 transmittance infrared thermal imager
1 中国海洋大学信息科学与工程学部海洋技术学院,山东 青岛 266100
2 中国海洋大学三亚海洋研究所,海南 三亚 572024
为了减少由海天视场的时空不匹配引起的海表皮温测量误差,设计了循环水膜装置,结合红外热像仪,提出了一种海表皮温校正方法。在循环水膜装置中,通过水的循环流动,打破冷表皮效应,水膜的表皮温度可被测温仪精确测量。该方法使用热像仪对已知表皮温度的水膜进行测量,通过计算水膜表皮温度的真实值与测量值之差,校正热像仪对海表皮温的测量值,从而去除天空辐射对海表皮温测量的影响,得到准确的海表皮温数据。经实验验证,本文方法在降低海表皮温测量设备成本的同时,可提升天空辐射在时空多变时的测温精度。
海表皮温 循环水膜装置 红外热像仪 天空辐射 光学学报
2023, 43(24): 2412003
随着高分辨率制冷型红外热像仪的发展, 模拟信号的频率提高了, 因此需要保证传输路径上模拟信号的质量, 从而保证红外成像质量。在自研1280×1024@15 m中波红外热像仪的成像实验中发现, 红外图像中高亮的点源目标都以成对的方式出现, 即图像出现重影。这对较小目标的探测及识别造成了严重的干扰。提取了模拟信号传输路径模型及仿真电路信号并进一步对比了红外图像, 发现信号传输路径上的阻抗不匹配是导致图像重影的主要原因。经验证可知, 当传输路径上的匹配电阻在40~70 Ω之间时, 信号传输质量较好, 红外图像重影问题可以得到解决。
红外热像仪 阻抗匹配 红外成像 infrared imager impedance matching infrared imaging
红外与激光工程
2022, 51(6): 20210555
1 昆明物理研究所,云南 昆明 650223
2 陆军装备部驻重庆地区军事代表局驻昆明地区第一军事代表室,云南 昆明 650030
热像仪的可靠性水平会直接影响使用者任务成功率、维护成本及寿命周期,因此其可靠性设计工作越来越受到关注。同时,就目前国内热像仪研制情况而言,研制样机的可靠性并不能反映小批量生产产品的可靠性水平。因此,为充分反映研制样机的可靠性水平,本文主要研究了某型热像仪在研制过程中的可靠性增长方法,分析了红外热像仪的故障,建立了红外热像仪的任务可靠性模型,提出了相应的改进措施,并采用可靠性增长的办法来验证所提措施的有效性。本文所提改进措施满足装备 试验鉴定要求,可实现热像仪的可靠性增长和批量产品可靠性不降低的目标。
红外热像仪 可靠性增长 平均无故障时间 infrared thermal imager, reliability growth, mean
华中光电技术研究所 -武汉光电国家研究中心, 湖北武汉 430223
红外热像仪机械环境可靠性是其结构设计最为重要的指标之一。为保证红外热像仪能够经受服役的振动环境, 本文以某型红外热像仪故障闭环为契机开展失效机理及结构改进设计研究。基于动态试验结果对红外热像仪有限元模型进行修正。采用有限元数值方法和随机振动疲劳失效理论相结合对故障的产生机理进行了推测。根据分析结果重新对结构改进优化并通过疲劳失效理论和随机振动试验进行了验证。结果表明故障定位准确、提出的优化改进措施有效。本文的分析思路对单机传感器设计或故障定位、结构改进设计等具有一定参考意义。
红外热像仪 有限元方法 动态试验 随机振动 疲劳失效 infrared thermal imager, finite element method, dy
红外与激光工程
2021, 50(10): 20210043
1 中国科学院大学光电学院,北京 100049
2 中国科学院光电技术研究所薄膜光学技术研究室,四川 成都 610209
光学薄膜在制备和使用过程中会因缺陷和污染等产生吸收中心,当薄膜受激光辐照后,吸收中心吸收光能会产生热信号,根据热信号可以测量光学薄膜的光学吸收损耗。本文提出基于红外热像仪测量薄膜光学吸收损耗的方法,在测试中加入参考样品可以减少环境温度变化和热像仪噪声对于温度测试结果的影响,对测量过程温度场取一定面积进行平均减少了激光指向波动和光斑分布不理想导致的有限元仿真计算误差。使用本方法测试了小尺寸45°的高反膜吸收损耗,测试得到吸收损耗为7.60 ppm,且测试了同批次大尺寸光学薄膜样品吸收损耗的空间分布情况。使用本方法测量的光学薄膜吸收率和激光量热测试结果一致,不需要长时间的恒温和严格环境温度控制,且测试样品尺寸不受限制。
薄膜光学 吸收损耗 红外热像仪 有限元 吸收测量 optical thin film absorption loss infrared thermography finite element absorption measurement
利用红外热像仪测温需先设定被测表面的法向发射率,该发射率通常为定值。而当热像仪处于被测点的天顶角大于 50.的位置范围时,由于被测点定向发射率的变化,必造成这些点的测温误差。对于非平表面,这样的点大量存在。因此,必须对其测温结果进行修正。本文针对使用单目红外热像仪测量非平表面温度时由于各点定向发射率的变化引起的测量误差进行研究,并依据物体表面定量发射率的变化规律,给出了测量点的温度修正系数。同时,通过点云三维建模,利用热像仪的几何成像原理推导出红外热像图与实际被测表面中点与点的对应关系,给出了通过红外热像仪测量非平表面的温度分布的误差修正方法。实验证明了该方法的有效性。
红外无损检测 红外热像仪 测温误差 温度修正 非平表面 thermographic non-destructive inspection, infrared