作者单位
摘要
昆明物理研究所,云南 昆明 650223
热成像仪由于工作环境较为恶劣,且自身发热量较大,容易导致热像仪光轴发生热偏移,严重影响其瞄准性能。为了提高红外热像仪的光轴热稳定性,以某型热像仪光轴敏感部件——折转镜为主要研究对象,研究其在不同环境温度条件下的光轴变化情况,并通过构建折转镜的有限元仿真模型以及试验测试系统,获得与试验数据一致性较好的有限元模型;以此为基础,采用基于变密度法的拓扑优化仿真技术,以刚度最大化为设计目标,以体积分数为约束,对折转镜座进行了拓扑优化设计。通过试验测试得出,优化设计的折转镜座的光轴高温偏移量由46.1″减小到25.5″,减小了44.7%,折转镜座的光轴低温偏移量由92.9″减小到51.0″,减小了45.1%,极大地提高了折转镜的光轴热稳定性。最后,将优化后的折转镜安装到某型热像仪中进行整机试验测试,热像仪整机的高温光轴偏移量由0.461 mrad减小到0.340 mrad,下降了26.2%,低温光轴偏移量由0.485 mrad减小到0.296 mrad,下降了39.0%,证明了仿真与拓扑优化模型的可行性与有效性,为后续红外热像仪整机的轻量化设计与性能提升奠定了基础。
结构设计 拓扑优化 红外热像仪 折转镜 光轴热稳定性 structural design topological optimization infrared imager reflective mirror thermal stability of the optical axis 
红外与激光工程
2024, 53(1): 20230358
作者单位
摘要
河南平芝高压开关有限公司,河南平顶山 467013
红外测温技术是电力行业常用的设备故障检测手段,在气体绝缘组合电器设备(Gas InsulatedSwitchgear,GIS)故障诊断中有着重要应用。为提高 GIS设备红外测温精度,建立了一个红外测温模型并提出一种 SF6透射率校正方法。首先,基于热辐射理论建立红外测温模型,并给出不同条件下的简化模型。然后,为提高温度测量精度,考虑 SF6透射率对红外模型测温模型输出结果的影响,给出不同条件下的 SF6透射率校正方法。最后,进行实际的温度测量实验,验证所建立的红外测温模型及所提 SF6透射率校正方法的有效性。实验结果表明,与未进行 SF6透射率校正的方法相比,使用所提 SF6透射率校正方法后温度测量精度得以提高,误差最高降低了 66.7%。所提方法为电网故障检测及监控打下基础,在电网故障检测、电网安全作业等方面有着广阔的应用前景。
电网故障检测 红外测温技术 辐射理论 SF6透射率 红外热像仪 power grid fault detection infrared temperature measurement technology radiation theory SF6 transmittance infrared thermal imager 
光学与光电技术
2023, 21(4): 98
作者单位
摘要
1 中国海洋大学信息科学与工程学部海洋技术学院,山东 青岛 266100
2 中国海洋大学三亚海洋研究所,海南 三亚 572024
为了减少由海天视场的时空不匹配引起的海表皮温测量误差,设计了循环水膜装置,结合红外热像仪,提出了一种海表皮温校正方法。在循环水膜装置中,通过水的循环流动,打破冷表皮效应,水膜的表皮温度可被测温仪精确测量。该方法使用热像仪对已知表皮温度的水膜进行测量,通过计算水膜表皮温度的真实值与测量值之差,校正热像仪对海表皮温的测量值,从而去除天空辐射对海表皮温测量的影响,得到准确的海表皮温数据。经实验验证,本文方法在降低海表皮温测量设备成本的同时,可提升天空辐射在时空多变时的测温精度。
海表皮温 循环水膜装置 红外热像仪 天空辐射 
光学学报
2023, 43(24): 2412003
作者单位
摘要
昆明物理研究所, 云南 昆明 650223
随着高分辨率制冷型红外热像仪的发展, 模拟信号的频率提高了, 因此需要保证传输路径上模拟信号的质量, 从而保证红外成像质量。在自研1280×1024@15 m中波红外热像仪的成像实验中发现, 红外图像中高亮的点源目标都以成对的方式出现, 即图像出现重影。这对较小目标的探测及识别造成了严重的干扰。提取了模拟信号传输路径模型及仿真电路信号并进一步对比了红外图像, 发现信号传输路径上的阻抗不匹配是导致图像重影的主要原因。经验证可知, 当传输路径上的匹配电阻在40~70 Ω之间时, 信号传输质量较好, 红外图像重影问题可以得到解决。
红外热像仪 阻抗匹配 红外成像 infrared imager impedance matching infrared imaging 
红外
2023, 44(3): 20
作者单位
摘要
天津职业技术师范大学 机械工程学院,天津 300222
发射率设定对红外热像仪测量结果的准确性具有决定性的影响,必须在测温前进行准确标定。首先通过热电偶标定试验研究了发射率设定对红外热像仪测温精度的影响。其次通过析因实验分析了设定发射率的影响因素。最后通过正交实验研究了各因素对设定发射率的影响程度,并进行了经验公式拟合和实验验证。结果表明:对于SiCp/Al复合材料,设定发射率在被测温度500 ℃前后有很大的差异,被测温度超过500 ℃时,采用推荐值作为设定方法则会产生较大误差。在[0°,45°]范围内测量角度对设定发射率几乎没有影响,但温度、表面粗糙度和观测距离都会影响设定发射率。多项式拟合获得的设定发射率经验公式预测结果的最大误差为2.76%。
切削温度 红外热像仪 发射率设定 影响因素 经验公式 cutting temperature infrared thermal imager emissivity setting impacts empirical formula 
红外与激光工程
2022, 51(6): 20210555
作者单位
摘要
1 昆明物理研究所,云南 昆明 650223
2 陆军装备部驻重庆地区军事代表局驻昆明地区第一军事代表室,云南 昆明 650030
热像仪的可靠性水平会直接影响使用者任务成功率、维护成本及寿命周期,因此其可靠性设计工作越来越受到关注。同时,就目前国内热像仪研制情况而言,研制样机的可靠性并不能反映小批量生产产品的可靠性水平。因此,为充分反映研制样机的可靠性水平,本文主要研究了某型热像仪在研制过程中的可靠性增长方法,分析了红外热像仪的故障,建立了红外热像仪的任务可靠性模型,提出了相应的改进措施,并采用可靠性增长的办法来验证所提措施的有效性。本文所提改进措施满足装备 试验鉴定要求,可实现热像仪的可靠性增长和批量产品可靠性不降低的目标。
红外热像仪 可靠性增长 平均无故障时间 infrared thermal imager, reliability growth, mean 
红外技术
2022, 44(6): 628
作者单位
摘要
华中光电技术研究所 -武汉光电国家研究中心, 湖北武汉 430223
红外热像仪机械环境可靠性是其结构设计最为重要的指标之一。为保证红外热像仪能够经受服役的振动环境, 本文以某型红外热像仪故障闭环为契机开展失效机理及结构改进设计研究。基于动态试验结果对红外热像仪有限元模型进行修正。采用有限元数值方法和随机振动疲劳失效理论相结合对故障的产生机理进行了推测。根据分析结果重新对结构改进优化并通过疲劳失效理论和随机振动试验进行了验证。结果表明故障定位准确、提出的优化改进措施有效。本文的分析思路对单机传感器设计或故障定位、结构改进设计等具有一定参考意义。
红外热像仪 有限元方法 动态试验 随机振动 疲劳失效 infrared thermal imager, finite element method, dy 
红外技术
2022, 44(2): 145
作者单位
摘要
1 南京大学 电子科学与工程学院,江苏 南京 210123
2 国网浙江省电力有限公司信息通信分公司,浙江 杭州 310020
红外热像仪能够监测目标温度从而起到事故预警与位置确认、大规模人体表面温度筛查等作用。由于环境温度变化与红外辐射吸收产生的温度漂移现象,目前大部分测温红外热像仪需要采用黑体进行实时校正,但是基于黑体的红外热像仪架设场景固定,便携性差。针对以上问题提出了一种无黑体式红外热像仪测温标定和温度补偿技术,通过对红外测温原理进行推导,采用多黑体标定获得目标温度与辐射量的先验关系,针对探测器内部结构引起温度漂移,由牛顿冷却定律进行非线性建模实现实时温度补偿。通过实验验证,所提出的测温标定技术可将测温平均相对误差长时稳定保持在0.9%以内,相比于标定前平均相对误差有效降低64%,从而实现小型化红外热像仪便携、实时、稳定高精度测温。
红外热像仪 测温标定 温度补偿 长时稳定 infrared thermal imager temperature calibration temperature compensation long-term stability 
红外与激光工程
2021, 50(10): 20210043
作者单位
摘要
1 中国科学院大学光电学院,北京 100049
2 中国科学院光电技术研究所薄膜光学技术研究室,四川 成都 610209
光学薄膜在制备和使用过程中会因缺陷和污染等产生吸收中心,当薄膜受激光辐照后,吸收中心吸收光能会产生热信号,根据热信号可以测量光学薄膜的光学吸收损耗。本文提出基于红外热像仪测量薄膜光学吸收损耗的方法,在测试中加入参考样品可以减少环境温度变化和热像仪噪声对于温度测试结果的影响,对测量过程温度场取一定面积进行平均减少了激光指向波动和光斑分布不理想导致的有限元仿真计算误差。使用本方法测试了小尺寸45°的高反膜吸收损耗,测试得到吸收损耗为7.60 ppm,且测试了同批次大尺寸光学薄膜样品吸收损耗的空间分布情况。使用本方法测量的光学薄膜吸收率和激光量热测试结果一致,不需要长时间的恒温和严格环境温度控制,且测试样品尺寸不受限制。
薄膜光学 吸收损耗 红外热像仪 有限元 吸收测量 optical thin film absorption loss infrared thermography finite element absorption measurement 
光电工程
2021, 48(6): 210071
作者单位
摘要
海军工程大学动力工程学院,湖北武汉 430033
利用红外热像仪测温需先设定被测表面的法向发射率,该发射率通常为定值。而当热像仪处于被测点的天顶角大于 50.的位置范围时,由于被测点定向发射率的变化,必造成这些点的测温误差。对于非平表面,这样的点大量存在。因此,必须对其测温结果进行修正。本文针对使用单目红外热像仪测量非平表面温度时由于各点定向发射率的变化引起的测量误差进行研究,并依据物体表面定量发射率的变化规律,给出了测量点的温度修正系数。同时,通过点云三维建模,利用热像仪的几何成像原理推导出红外热像图与实际被测表面中点与点的对应关系,给出了通过红外热像仪测量非平表面的温度分布的误差修正方法。实验证明了该方法的有效性。
红外无损检测 红外热像仪 测温误差 温度修正 非平表面 thermographic non-destructive inspection, infrared 
红外技术
2021, 43(2): 179

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