哈尔滨工业大学 超精密光电仪器工程研究所, 黑龙江 哈尔滨 150080
光学显微三维测量耦合效应是指沟槽或台阶样品高度测量准确性受横向周期影响产生原理误差的现象。采用卷积不相关原则和有限能量损失原则, 分别建立了薄样品和深沟槽样品光学显微三维测量的解耦合模型, 揭示了被测样品特征参数与光学仪器表征能力之间的关联关系。与现有W/3准则相比, 光学显微三维测量解耦合准则能够客观反映光学仪器表征能力受样品结构差异变化的影响, 指示高度测量解耦合评定的示值区域, 预见高度测量原理误差产生, 为沟槽或台阶样品三维结构表征提供了一种新的计量评定准则。
解耦合准则 光学显微测量 薄样品测量 深沟槽测量 台阶高度 decoupling criterion optical microscopic measurement thin sample measurement deep groove measurement step height 红外与激光工程
2017, 46(3): 0302001
