作者单位
摘要
哈尔滨工业大学可调谐激光技术国家级重点实验室, 黑龙江 哈尔滨 150080
太赫兹反射式共焦扫描显微成像系统分辨率较高且可呈现物体三维像,因此具有很大的应用价值。针对一种连续太赫兹反射式共焦扫描显微成像实验光路,在所确定的系统参数条件下,计算分析了两种太赫兹波长( 118.83 μm 和184.31 μm )的系统轴向响应特性。仿真结果表明,所设计的波长118.83 μm 的成像实验装置横向分辨率可达0.23 mm,轴向分辨率约为4.27 mm;波长184.31 μm 的系统横向分辨率可达0.36 mm,轴向分辨率约为6.63 mm。探测器轴向偏移影响大于横向偏移影响。
太赫兹成像 反射式共焦扫描 分辨率 轴向偏移 横向偏移 
激光与光电子学进展
2014, 51(8): 081101
作者单位
摘要
北京理工大学 光电学院,北京 100081
点探测器的位置是决定双轴共焦显微技术层析能力的关键因素之一,理想的共焦显微成像系统要求点探测器放在光轴上并且没有离焦情况出现。通过理论和实验分析了点探测器偏离理想位置对双轴共焦显微技术的轴向响应特性造成的影响。结果表明,点探测器的微小轴向偏移对轴向响应特性造成的影响基本可以忽略,但点探测器的微小横向偏移会使轴向响应曲线沿着z轴方向产生一定的移动,移动量随着偏移量的增大而增大。
探测器 双轴共焦显微技术 轴向响应 轴向偏移 横向偏移 
激光与光电子学进展
2010, 47(8): 081201

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