多角度偏振成像仪(MAI)采用背照式面阵CCD探测器, 用于定量获取云与气溶胶参数。暗电流是影响面阵CCD探测器数据质量及其定量应用的主要因素之一。为了分析CCD暗电流特征及其通道依赖性, 并改进CCD成像质量, 在分析MAI 0级数据特征的基础上, 提出基于夜间场景对MAI各通道暗电流特征进行分析的方法, 并于2018年2月2日—16日开展了MAI夜间场景观测实验。通过对比MAI挡光通道白天和夜间的观测结果可知, 白天和夜间观测到的暗电流特征无明显差异。故基于夜间观测数据对MAI 13个通道的暗电流特征开展分析, 结果表明：各通道暗电流分布均存在一定程度的非均匀性及“坏点”, 且单个通道的分布具有较好的稳定性, 但各通道之间存在显著差异。基于图像法对“坏点”进行校正, 基于线性、非性线关系对像元间的不均匀分布进行校正后, 暗电流图像的标准差由12.1%降至6.9%。以晴空洋面观测值为参考, 暗电流及“坏点”对像元观测的最大相对误差由9.1%降至3.0%。分析结果表明：相对于设置暗电流监测通道, 基于夜间观测的暗电流监测不仅可以监测各通道的暗电流特征, 还可以处理暗电流的通道依赖性问题。因此, 在后续的星载观测仪器设计中, 无需单独设置暗电流监测通道就可以直接利用CCD夜间观测对各通道暗电流进行在轨监测与校正。