1 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083
2 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室(中国科学院上海技术物理研究所), 上海 200083
3 中国科学院大学, 北京 100049
围绕单采样和过采样扫描探测体制下的点目标定量检测性能, 基于亚像元的采样模型, 建立了一定分辨率条件下探测不同高度、尺寸目标的成像链路仿真模型, 从目标信号采集能力、背景及杂波水平影响、检测能力和测量特性四个方面对比分析了相同瞬时视场的单采样、过采样以及两倍瞬时视场的过采样三种规格采样体制的目标检测性能.分析结果表明:相同瞬时视场的过采样比单采样更有利于目标信号的采集, 检测能力更强, 两倍瞬时视场的过采样对目标信号有抑制作用, 不利于低信杂比情况下的目标探测；两种规格的过采样对背景信号及杂波均有抑制作用；两种规格的过采样对目标辐射强度都有明显的过采集误差, 必须进行修正.
扫描系统 过采样 点目标 采样模型 定量检测 scanning system over-sampling point target sampling model quantitative detection
北京理工大学信息科学技术学院光电工程系, 北京 100081
建立了可研究强超短光脉冲放大特性且包含自由载流子吸收、受激辐射、双光子吸收、光谱烧孔和超快非线性折射效应的半导体光放大器理论模型,用以建立脉冲四波混频模型,并进一步仿真了基于半导体光放大器的光采样过程,重点讨论了自由载流子吸收、双光子吸收效应对采样特性的影响。仿真结果与实验结果相符。
非线性光学 光采样模型 速率方程 自由载流子吸收 双光子吸收 四波混频
