抗辐射能力表现为系统技术性能对辐射损伤的敏感程度。抗辐射能力是设计、生产出来的。抗辐射量化设计能力是抗辐射加固技术发展水平的重要标志。根据QMU（性能阈值、裕量和不确定度）的思想，提出量化抗辐射设计，第一要优化系统总体设计，为辐射损伤敏感的技术性能合理地分配裕量；第二要量化系统工作的辐射环境及其不确定度，量化在实际工作的辐射环境中，辐射损伤引起的系统及其器件和结构的技术性能变化和不确定度，综合优化抗辐射措施，确保技术性能变化及其不确定度被有效控制在分配的裕量范围内，最后量化加固设计效果，预测系统抗辐射能力。

针对任意形状感兴趣区域(ROI)编码算法在低码率下ROI重建质量差、编码时间长等问题，在优化的集合分裂树算法(SPIHT)基础上提出了一种适用于低码率的任意形状ROI编码方法。利用小波系数之间的空间位置相似性和所用小波滤波器的特征，以极少的码率实现了任意形状ROI掩模的描述，为提高算法效率奠定了基础；利用改进后的空间方向树结构以集合的形式测试ROI区域中更多的节点，提高了SPIHT中分类排序的扫描效率；以小波子带为单位的量化方法通过为每个小波子带选择合适的量化阈值优化了码流的输出，提高了低码率下ROI的重建质量。实验表明，提出的方法支持对多个任意形状ROI的编码；在不到0.04 bit/pixel的码率下描述出了整幅图像中任意形状ROI的掩模信息；在码率小于0.5 bit/pixel时，ROI的峰值信噪比(PSNR)比基于JPEG2000的多子带位平面平移(MSBShift)方法提高了2~7 dB ，编码时间缩短了30%以上。该方法具有ROI的重建质量高、编码速度快等特点，适于在低码率下应用。