光学技术, 2017, 43 (3): 208, 网络出版: 2017-06-08
利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度
Using the power spectral density to evaluate the surface roughness of optical element ion beam polishing
基本信息
| DOI: | -- |
| 中图分类号: | TN205 |
| 栏目: | 光学测量 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(NSFC 11304021) |
| 收稿日期: | 2016-09-06 |
| 修改稿日期: | -- |
| 网络出版日期: | 2017-06-08 |
| 通讯作者: | 岳巾英 (yuejy444@163.com) |
| 备注: | -- |
岳巾英, 王泰升, 李素文. 利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度[J]. 光学技术, 2017, 43(3): 208. YUE Jinying, WANG Taisheng, LI Suwen. Using the power spectral density to evaluate the surface roughness of optical element ion beam polishing[J]. Optical Technique, 2017, 43(3): 208.
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