光电工程, 2019, 46 (4): 18022010, 网络出版: 2019-05-04
SiO2光学薄膜的吸收边特性
Characterictics of absorption edge of SiO2 films
基本信息
| DOI: | 10.12086/oee.2019.18022010 |
| 中图分类号: | TB383;O484 |
| 栏目: | 科研论文 |
| 项目基金: | 中国科学院西部之光基金、 国家自然科学基金资助项目 (61805247) |
| 收稿日期: | 2018-04-05 |
| 修改稿日期: | 2018-11-06 |
| 网络出版日期: | 2019-05-04 |
| 通讯作者: | 孔明东 (kongmd@ioe.ac.cn) |
| 备注: | -- |
孔明东, 李斌成, 郭春, 柳存定, 何文彦. SiO2光学薄膜的吸收边特性[J]. 光电工程, 2019, 46(4): 18022010. Kong Mingdong, Li Bincheng, Guo Chun, Liu Chunding, He Wenyan. Characterictics of absorption edge of SiO2 films[J]. Opto-Electronic Engineering, 2019, 46(4): 18022010.
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