SiO<sub>2</sub>光学薄膜的吸收边特性

孔明东; 李斌成; 郭春; 柳存定; 何文彦

doi:doi:10.12086/oee.2019.18022010

光电工程, 2019, 46 (4): 18022010, 网络出版: 2019-05-04

SiO₂光学薄膜的吸收边特性

Characterictics of absorption edge of SiO₂ films

孔明东 ^1,2,*李斌成 ³郭春 ¹柳存定 ¹何文彦 ¹

作者单位

¹ 中国科学院光电技术研究所, 四川成都 610209

² 中国科学院大学, 北京 100049

³ 电子科技大学光电科学与工程学院, 四川成都 610054

图 & 表

孔明东, 李斌成, 郭春, 柳存定, 何文彦. SiO₂光学薄膜的吸收边特性[J]. 光电工程, 2019, 46(4): 18022010. Kong Mingdong, Li Bincheng, Guo Chun, Liu Chunding, He Wenyan. Characterictics of absorption edge of SiO₂ films[J]. Opto-Electronic Engineering, 2019, 46(4): 18022010.