光学 精密工程, 2013, 21 (11): 2778, 网络出版: 2014-01-09
CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统
Testing system for radiation effects of CCD and CMOS image sensors
基本信息
| DOI: | 10.3788/ope.20132111.2778 |
| 中图分类号: | TN386.5 |
| 栏目: | 现代应用光学 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金青年基金资助项目(No.11005152)、 中国科学院西部之光西部博士科研基金资助项目(No.XBBS200911) |
| 收稿日期: | 2013-05-03 |
| 修改稿日期: | 2013-06-08 |
| 网络出版日期: | 2014-01-09 |
| 通讯作者: | 李豫东 (lydong@ms.xjb.ac.cn) |
| 备注: | -- |
李豫东, 汪波, 郭旗, 玛丽娅, 任建伟. CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统[J]. 光学 精密工程, 2013, 21(11): 2778. LI Yu-dong, WANG Bo, GUO Qi, MA Li-ya, REN Jian-wei. Testing system for radiation effects of CCD and CMOS image sensors[J]. Optics and Precision Engineering, 2013, 21(11): 2778.
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