CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统 | 光学精密工程 -- 中国光学期刊网

光学精密工程, 2013, 21 (11): 2778, 网络出版: 2014-01-09

CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统

Testing system for radiation effects of CCD and CMOS image sensors

李豫东 ^1,2,*汪波 ^1,2,3郭旗 ^1,2玛丽娅 ^1,2,3任建伟 ⁴

作者单位

¹ 中国科学院新疆理化技术研究所, 新疆乌鲁木齐 830011

² 中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室, 新疆乌鲁木齐 830011

³ 中国科学院大学, 北京 100049

⁴ 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林长春 130033

图 & 表

李豫东, 汪波, 郭旗, 玛丽娅, 任建伟. CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统[J]. 光学精密工程, 2013, 21(11): 2778. LI Yu-dong, WANG Bo, GUO Qi, MA Li-ya, REN Jian-wei. Testing system for radiation effects of CCD and CMOS image sensors[J]. Optics and Precision Engineering, 2013, 21(11): 2778.

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