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Chinese Optics Letters, 2006, 4 (12): 705, Published Online: Dec. 30, 2006   

A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate Download： 710次

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Weiwei Feng 1Lihuang Lin 1Ligang Chen 2Huafeng Zhu 3Ruxin Li 1Zhizhan Xu 1
Author Affiliations
1 State Key Laboratory of High Field Laser Physics, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800
2 Remote Sensing Laboratory, Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Hefei 230031
3 College of Physics Science and Technology, China University of Petroleum, Qingdao 266555
Figures & Tables

Weiwei Feng, Lihuang Lin, Ligang Chen, Huafeng Zhu, Ruxin Li, Zhizhan Xu. A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate[J]. Chinese Optics Letters, 2006, 4(12): 705.

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