热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命

李建林; 张绍裕; 孙娟; 谢刚; 周嘉鼎; 马颖婷

doi:doi:10.3788/irla201948.1004003

红外与激光工程, 2019, 48 (10): 1004003, 网络出版: 2019-11-19

热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命

Evaluating its storage life using thermal stress accelerated HgCdTe FPA performance degradation

李建林 ^*张绍裕孙娟谢刚周嘉鼎马颖婷

作者单位

昆明物理研究所，云南昆明 650223

图 & 表

李建林, 张绍裕, 孙娟, 谢刚, 周嘉鼎, 马颖婷. 热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命[J]. 红外与激光工程, 2019, 48(10): 1004003. Li Jianlin, Zhang Shaoyu, Sun Juan, Xie Gang, Zhou Jiading, Ma Yingting. Evaluating its storage life using thermal stress accelerated HgCdTe FPA performance degradation[J]. Infrared and Laser Engineering, 2019, 48(10): 1004003.