红外与激光工程, 2019, 48 (10): 1004003, 网络出版: 2019-11-19
热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命
Evaluating its storage life using thermal stress accelerated HgCdTe FPA performance degradation
红外探测器 碲镉汞 加速退化试验 储存寿命 可靠性 infrared detectors HgCdTe accelerated degradation test storage life reliability
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