基于子孔径拼接技术的大尺寸光学材料均匀性检测系统

徐新华; 王青; 宋波; 傅英

doi:doi:10.3788/aos201232.0412002

光学学报, 2012, 32 (4): 0412002, 网络出版: 2012-02-24

基于子孔径拼接技术的大尺寸光学材料均匀性检测系统

Measurement System of Optical Homogeneity of Large-Size Optical Material Based on Subaperture Stitching Technique

徐新华 ^1,*王青 ¹宋波 ²傅英 ¹

作者单位

¹ 南京理工大学电光学院, 江苏南京 210094

² 中国建筑材料科学研究总院, 北京 100024

图 & 表

徐新华, 王青, 宋波, 傅英. 基于子孔径拼接技术的大尺寸光学材料均匀性检测系统[J]. 光学学报, 2012, 32(4): 0412002. Xu Xinhua, Wang Qing, Song Bo, Fu Ying. Measurement System of Optical Homogeneity of Large-Size Optical Material Based on Subaperture Stitching Technique[J]. Acta Optica Sinica, 2012, 32(4): 0412002.