应用光学, 2012, 33 (6): 1069, 网络出版: 2012-12-31
基于干涉条纹图像对比法测量微位移
Micro-displacement measurement based on comparison of interference fringe
基本信息
| DOI: | 10.5768/jao201233.0602002 |
| 中图分类号: | TN249;O439 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 河南省教育厅骨干教师计划项目和河南省教育厅重点资助项目(12A510012) |
| 收稿日期: | 2011-07-07 |
| 修改稿日期: | 2012-05-24 |
| 网络出版日期: | 2012-12-31 |
| 通讯作者: | 闫海涛 (yanhaitaoyht@163.com) |
| 备注: | -- |
闫海涛, 孟伟东, 赵晓艳, 甄志强. 基于干涉条纹图像对比法测量微位移[J]. 应用光学, 2012, 33(6): 1069. YAN Hai-tao, MENG Wei-dong, ZHAO Xiao-yan, ZHEN Zhi-qiang. Micro-displacement measurement based on comparison of interference fringe[J]. Journal of Applied Optics, 2012, 33(6): 1069.
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