中国激光, 2015, 42 (9): 0908006, 网络出版: 2015-09-06
基于离轴显微干涉术的单幅干涉图相位求解
Phase Retrieval with One Interferogram by Reflecting Off-Axis Microscopic Interferometry
测量 表面形貌 离轴 载频 显微干涉 measurement surface profile off-axis carrier frequency microscopic interferometry
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