红外与毫米波学报, 2019, 38 (1): 61, 网络出版: 2019-03-19
一种片上集成模拟信号累加结构的CMOS-TDI传感器噪声建模与分析
Noise analysis of a CMOS TDI sensor with on chip signal accumulation in analog domain
基本信息
DOI: | 10.11972/j.issn.1001-9014.2019.01.011 |
中图分类号: | TN492 |
栏目: | |
项目基金: | 国家自然科学基金(61874127) |
收稿日期: | 2018-07-10 |
修改稿日期: | 2018-12-21 |
网络出版日期: | 2019-03-19 |
通讯作者: | 计成 (aikenji@icloud.com) |
备注: | -- |
计成, 陈永平. 一种片上集成模拟信号累加结构的CMOS-TDI传感器噪声建模与分析[J]. 红外与毫米波学报, 2019, 38(1): 61. JI Cheng, Chen Yong-Ping. Noise analysis of a CMOS TDI sensor with on chip signal accumulation in analog domain[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2019, 38(1): 61.