中国激光, 2015, 42 (3): 0308005, 网络出版: 2015-02-03
基于双频正交光栅一维相移的相位测量偏折术研究
A One-Dimensional Phase-Shift Technique Based on Dual-Frequency Crossed Fringe for Phase Measuring Deflectometry
测量 正交光栅 相移 相位测量偏折术 结构光照明 三维成像 measurement crossed fringe phase-shift phase measuring deflectometry structured illumination three-dimensional imaging
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