量子电子学报, 2018, 35 (4): 432, 网络出版: 2018-08-24
超导离子芯片近场热噪声引起的离子加热研究
Ion heating induced by near-field thermal noise of superconducting ion chip
基本信息
DOI: | 10.3969/j.issn.1007-5461. 2018.04.008 |
中图分类号: | O431.2;O511 |
栏目: | 量子光学 |
项目基金: | Supported by Fundamental Research Funds for Central Universities (中央高校基本科研业务费专项资金, WUT: 2016-IA-008) |
收稿日期: | 2017-04-18 |
修改稿日期: | 2017-05-18 |
网络出版日期: | 2018-08-24 |
通讯作者: | 徐志兵 (xuzhibing@whut.edu.cn) |
备注: | -- |
徐志兵, 张波, 杨波, 刘子龙, 毛如圣. 超导离子芯片近场热噪声引起的离子加热研究[J]. 量子电子学报, 2018, 35(4): 432. XU Zhibing, ZHANG Bo, YANG Bo, LIU Zilong, MAO Rusheng. Ion heating induced by near-field thermal noise of superconducting ion chip[J]. Chinese Journal of Quantum Electronics, 2018, 35(4): 432.