量子电子学报, 2018, 35 (4): 432, 网络出版: 2018-08-24  

超导离子芯片近场热噪声引起的离子加热研究

Ion heating induced by near-field thermal noise of superconducting ion chip
作者单位
武汉理工大学理学院物理系, 湖北 武汉 430070
基本信息
DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461. 2018.04.008
中图分类号: O431.2;O511
栏目: 量子光学
项目基金: Supported by Fundamental Research Funds for Central Universities (中央高校基本科研业务费专项资金, WUT: 2016-IA-008)
收稿日期: 2017-04-18
修改稿日期: 2017-05-18
网络出版日期: 2018-08-24
通讯作者: 徐志兵 (xuzhibing@whut.edu.cn)
备注: --

徐志兵, 张波, 杨波, 刘子龙, 毛如圣. 超导离子芯片近场热噪声引起的离子加热研究[J]. 量子电子学报, 2018, 35(4): 432. XU Zhibing, ZHANG Bo, YANG Bo, LIU Zilong, MAO Rusheng. Ion heating induced by near-field thermal noise of superconducting ion chip[J]. Chinese Journal of Quantum Electronics, 2018, 35(4): 432.

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