K-B镜面形高精度检测技术研究进展

张帅; 侯溪

doi:doi:10.37188/CO.2019-0231

中国光学, 2020, 13 (4): 660, 网络出版: 2020-08-17

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Research progress of high-precision surface metrology of a K-B mirror

张帅 ^1,2侯溪 ^1,*

作者单位

¹ 中国科学院光电技术研究所，四川成都 610209

² 中国科学院大学，北京 100049

基本信息

DOI:	10.37188/CO.2019-0231
中图分类号:	TN247
栏目:	综述
项目基金:	\|Supported by General Program of National Natural Science Foundation of China (No. 61675209)
收稿日期:	2019-12-04
修改稿日期:	2020-01-13
网络出版日期:	2020-08-17
通讯作者:
备注:	--

张帅, 侯溪. K-B镜面形高精度检测技术研究进展[J]. 中国光学, 2020, 13(4): 660. Shuai ZHANG, Xi HOU. Research progress of high-precision surface metrology of a K-B mirror[J]. Chinese Optics, 2020, 13(4): 660.