红外与激光工程, 2016, 45 (5): 0504001, 网络出版: 2016-06-12
红外焦平面低温形变测试方法及其误差分析
Measurement and error analysis of low temperature deformation of infrared focal plane arrays
基本信息
DOI: | 10.3788/irla201645.0504001 |
中图分类号: | TN215 |
栏目: | 红外技术及应用 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2015-03-06 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2016-06-12 |
通讯作者: | 张海燕 (haeyaz@mail.sitp.ac.cn) |
备注: | -- |
张海燕, 管建安, 庄馥隆, 汪洋, 陈安森, 龚海梅. 红外焦平面低温形变测试方法及其误差分析[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(5): 0504001. Zhang Haiyan, Guan Jian′an, Zhuang Fulong, Wang Yang, Chen Ansen, Gong Haimei. Measurement and error analysis of low temperature deformation of infrared focal plane arrays[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(5): 0504001.