红外与激光工程, 2016, 45 (5): 0504001, 网络出版: 2016-06-12   

红外焦平面低温形变测试方法及其误差分析

Measurement and error analysis of low temperature deformation of infrared focal plane arrays
作者单位
1 中国科学院上海技术物理研究所 传感技术国家重点实验室, 上海 200083
2 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
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张海燕, 管建安, 庄馥隆, 汪洋, 陈安森, 龚海梅. 红外焦平面低温形变测试方法及其误差分析[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(5): 0504001. Zhang Haiyan, Guan Jian′an, Zhuang Fulong, Wang Yang, Chen Ansen, Gong Haimei. Measurement and error analysis of low temperature deformation of infrared focal plane arrays[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(5): 0504001.

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