红外与激光工程, 2015, 44 (10): 2938, 网络出版: 2016-01-26
红外瞄具温度应力可靠性检测系统研究
Temperature stress reliability testing system for infrared aiming device
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TH745;TH39 |
栏目: | 光电测量 |
项目基金: | 吉林省重大专项(20100610) |
收稿日期: | 2015-02-04 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2016-01-26 |
通讯作者: | 柳鸣 (liuming2525775@126.com) |
备注: | -- |
柳鸣, 李丹妮, 张国玉, 孙向阳, 赵昭, 段洁. 红外瞄具温度应力可靠性检测系统研究[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(10): 2938. Liu Ming, Li Danni, Zhang Guoyu, Sun Xiangyang, Zhao Zhao, Duan Jie. Temperature stress reliability testing system for infrared aiming device[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(10): 2938.