中国激光, 2019, 46 (5): 0508001, 网络出版: 2019-11-11
超快光电子显微技术在纳米光子学中的应用 
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Applications of Ultrafast Photoemission Electron Microscopy in Nanophotonics
基本信息
| DOI: | 10.3788/CJL201946.0508001 |
| 中图分类号: | O436 |
| 栏目: | 非线性光学 |
| 项目基金: | 日本学术振兴会科学研究费补助金特别推进研究、国家自然科学基金重大科研仪器研制项目、吉林省“长白山学者计划” （ 11527901 ） |
| 收稿日期: | 2018-12-27 |
| 修改稿日期: | 2019-01-25 |
| 网络出版日期: | 2019-11-11 |
| 通讯作者: | 三泽弘明 (misawa@es.hokudai.ac.jp) |
| 备注: | -- |
孙泉, 祖帅, 上野贡生, 龚旗煌, 三泽弘明. 超快光电子显微技术在纳米光子学中的应用[J]. 中国激光, 2019, 46(5): 0508001. Quan Sun, Shuai Zu, Kosei Ueno, Qihuang Gong, Hiroaki Misawa. Applications of Ultrafast Photoemission Electron Microscopy in Nanophotonics[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(5): 0508001.
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