红外与激光工程, 2015, 44 (3): 1048, 网络出版: 2016-01-26
光学薄膜参数测量方法研究
Study on optical thin film parameters measurement method
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | O484 |
栏目: | 光电测量 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2014-07-05 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2016-01-26 |
通讯作者: | 李凯朋 (13259756785@163.com) |
备注: | -- |
李凯朋, 王多书, 李晨, 王济州, 董茂进, 张玲. 光学薄膜参数测量方法研究[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(3): 1048. Li Kaipeng, Wang Duoshu, Li Chen, Wang Jizhou, Dong Maojin, Zhang Ling. Study on optical thin film parameters measurement method[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(3): 1048.